上海儀電物光 顆粒圖像分析儀
將傳統(tǒng)的顯微測量方法與現(xiàn)代的圖像技術(shù)相結(jié)合,是一種采用圖像法進(jìn)行顆粒形貌分析和顆粒測量的顆粒分析儀器,由光學(xué)顯微鏡、數(shù)字CCD攝像機(jī)和顆粒圖像處理分析軟件組成。
該系統(tǒng)通過專用的數(shù)字?jǐn)z像機(jī)將圖像傳輸給電腦,通過專用的顆粒圖像處理分析軟件對圖像進(jìn)行分析處理,具有直觀、形像、準(zhǔn)確和測量范圍寬等特點。
1、圖像多種處理方法:影像增強(qiáng)、圖像疊加、局部提取、定倍放大、對比度、亮度調(diào)節(jié)、顆粒定位、自動分割等幾十種功能。
2、具有圓度、曲線、周長、面積、直徑等幾十種幾何參數(shù)的基本測量。
3、可直接按顆粒粒徑的粒徑面積、形狀等多類參數(shù),以線性或非線性統(tǒng)計方式繪出分布圖。
上海儀電物光 顆粒圖像分析儀
技術(shù)參數(shù)
儀器型號 | WKL-702 |
測量范圍 | 0.1~3000(微米) |
總放大倍數(shù) | 8000倍 |
最大分辨率 | 0.1微米/像素 |
重復(fù)性 | 誤差≤±1% |
自動分割速度 | ≤1秒 |
數(shù)字?jǐn)z像機(jī)(CCD) | 500萬像素 |
數(shù)據(jù)儲存 | 電腦需另配(i5+8G內(nèi)存+純固態(tài)硬盤或雙硬盤以上配置) |
通信接口 | USB |
操作系統(tǒng) | Windows 98/XP/7/8/10/11系統(tǒng)均可 |
電源 | AC220V ±10%,50 Hz, 200 W |
儀器尺寸 | 270mm×410mm×440mm |
儀器凈重 | 15kg |